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渝企研發(fā)出Micro LED晶圓檢測設(shè)備 率先在國內(nèi)打破終極顯示技術(shù)兩大商用瓶頸

　　12月19日，來自重慶中科搖櫓船信息科技有限公司（以下簡稱搖櫓船科技）的消息稱：其研發(fā)的Micro LED晶圓檢測設(shè)備，率先在國內(nèi)打破制約Micro LED顯示技術(shù)大規(guī)模商用的其中兩大瓶頸。作為行業(yè)顛覆性創(chuàng)新成果，該設(shè)備的問世可加快Micro LED顯示屏量產(chǎn)進程。

　　Micro LED被認為是顛覆產(chǎn)業(yè)的“終極顯示技術(shù)”。但自2012年全球首塊Micro LED顯示屏問世以來，因巨量芯片精準轉(zhuǎn)移難、壞點檢測難等瓶頸，此項技術(shù)至今未能大規(guī)模商用。

　　據(jù)了解，生產(chǎn)Micro LED顯示屏的過程中，需將小于50微米的數(shù)百萬顆Micro LED芯片，從晶圓上依次精準轉(zhuǎn)移到僅有幾英寸甚至更小的驅(qū)動電路基板上進行排布。為確保每顆芯片都完好無缺，轉(zhuǎn)移前需檢測出有缺陷的芯片。

　　但是，對幾英寸大小晶圓上的數(shù)百萬顆芯片進行精準轉(zhuǎn)移和檢測，難度都極大。再加上其他因素影響，現(xiàn)已問世的Micro LED顯示屏，像素良率較低，觀感不佳，且成本居高不下，企業(yè)和消費者都不堪重負。

　　兩年前，搖櫓船科技攜手國內(nèi)某顯示面板企業(yè)，利用機器視覺技術(shù)研發(fā)Micro LED晶圓檢測設(shè)備，在算法開發(fā)方面遇到兩道難關(guān)——針對Micro LED芯片的壞點檢測，缺乏缺陷數(shù)據(jù)；以往業(yè)內(nèi)通用的芯片轉(zhuǎn)移的標定方法，不適用于Micro LED芯片。

　　研發(fā)團隊采用異常檢測算法，讓無缺陷樣本去找缺陷芯片，解決了缺陷數(shù)據(jù)不足的問題，同時，設(shè)計了全新的標定板，創(chuàng)新推出適用于Micro LED芯片轉(zhuǎn)移定位的標定方法，最終于近期研發(fā)出上述設(shè)備。

　　經(jīng)測試，在芯片檢測環(huán)節(jié)，該設(shè)備對Micro LED芯片的漏檢率小于0.01%；在芯片轉(zhuǎn)移環(huán)節(jié)，其能夠引導芯片轉(zhuǎn)移裝置將芯片轉(zhuǎn)移精度控制在小于1微米的水平，由此一舉解決制約Micro LED顯示技術(shù)大規(guī)模商用的前述兩大瓶頸。

　　據(jù)悉，目前在全球，還能做到這一點的只有以色列一家企業(yè)。